Микроскопические методы исследования материалов. Эшли Кларк и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: Техносфера(2012)
- Серия: Мир материалов и технологий (Техносфера)
- Год написания: 2002
- ISBN: 978-5-94836-121-5, 978-5-457-37135-4
- Страниц: 372
- Язык: Русский
- Описание
- Фрагмент
За последние десятилетия в области материаловедения был совершен огромный скачок вперед. Одновременно очень быстро развивались и оптические методы исследования материалов. В компьютерной микроскопии произошли столь значительные изменения, что появилась потребность в книге, описывающей возможности новейших оптических микроскопов, используемых для исследования конструкционных материалов. В книге рассматриваются основы оптической микроскопии, описываются методы оптических исследований, как классические (методы темного поля и интерференционная микроскопия), так и новейшие, а также неоптические – например, акустические и рентгеновские. Рассматривается построение двумерного изображения на основе трехмерного массива данных и методы преобразования цифрового изображения на компьютере, изучается работа конфокального лазерного сканирующего микроскопа, приводятся примеры трехмерной реконструкции структуры композитов. Книга будет полезна ученым, специалистам в области материаловедения, аспирантам.