Сверхтвердые материалы. Рентгенографические, электронномикроскопические и дериватографические методы исследования сверхтвердых материалов. Николай Полушин и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: МИСиС(2018)
- Год написания: 2014
- Страниц: 5
- Язык: Русский
96 руб.
Отложить
- Жанры: Практикумы, Материаловедение
- Описание
- Фрагмент
В практикуме рассмотрены методики решения задач по рентгеноструктурному анализу, электронной микроскопии, анализу дефектов кристаллического строения и методу дериватографического анализа. Практикум предназначен для студентов, обучающихся по направлению 150100 «Материаловедение и технологии материалов» и по специальностям 150701 «Физико-химия процессов и материалов», 210602 «Наноматериалы», а также для студентов других направлений, преподавателей, аспирантов и слушателей курсов повышения квалификации.
