Сканирующие зондовые микроскопы. В. Д. Казаков
- Тип: Текст PDF
- Автор:
- Издательство: Инфра-Инженерия(2024)
- Год написания: 2024
- ISBN: 978-5-9729-1731-0, 978-5-04-653535-8
- Страниц: 109
- Язык: Русский
820 руб.
Отложить
- Жанры: Квантовая электроника, Учебники и пособия для вузов
- Теги:
- Описание
- Фрагмент
Кратко изложены основы сканирующей зондовой микроскопии. Рассмотрены принципы работы основных типов зондовых микроскопов (сканирующего туннельного микроскопа, атомно-силового микроскопа, электросилового микроскопа, магнитно-силового микроскопа, ближнепольного оптического микроскопа), наиболее широко используемых в научных исследованиях. Для студентов факультета радиоэлектроники и автоматики. Может быть полезно специалистам, разрабатывающим наноустройства.
