Оптимизация тестирования сложных цифровых устройств. И. О. Атовмян и др.
- Тип: Текст PDF
- Авторы:
- Издательство: Синергия(2014)
- Серия: Прикладная информатика. Научные статьи
- Год написания: 2014
- ISBN: 978-5-457-61479-6
- Страниц: 6
- Язык: Русский
79.90 руб.
Отложить
- Жанры: Программирование, Математика
- Теги:
- Описание
- Фрагмент
В статье изложены основные принципы объединения отдельных тестовых проверок модулей, составляющих цифровое устройство, в единую тест-программу. Объединение проверок проводится при неполной информации относительно реакций неисправного устройства. Формулируются свойства оптимально упорядоченной последовательности проверок в тесте. Предлагаются эвристические алгоритмы упорядочения проверок.
