Главная / Категории / Наука, Образование / Техническая литература

An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science. Sarah Fearn

Купить An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science
2125.95 руб.
Отложить

Рады Вам также предложить