An Introduction to Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (ToF-SIMS) and its Application to Materials Science. Sarah Fearn
- Тип: Текст PDF
- Автор:
- Издательство: Ingram(2020)
- Серия: IOP Concise Physics
- ISBN: 9781681740881
- Страниц: 6
2125.95 руб.
Отложить
- Жанры: Материаловедение, Естествознание, Проектирование
- Фрагмент